数字芯片测试系统解决方案

覆盖数字芯片测试全流程,为各环节测试提供创新性方案

  • SoC芯片CP/FT检测

    SoC芯片CP/FT检测

    辰卓科技系列化数字测试机方案可用于主流SoC芯片数字测试,方案具备如下优势:

      ●  并测度高:通道数多,单机可配1024IO,支持256-site并测,典型配置1024/768/512/384通道

      ●  存储深度大:数字Pattern存储深度可达128M每行;

      ●  DC能力强:数字测试板集成PPMU、BPMU、BDPS功能,支持独立的Force,Sense管脚,支持大电流输出与高精度量测;

      ●  功能完善:提供测试程序、Pattern格式转换器;提供Cable、Docking、Pogo Tower多种测试接口方案;支持常用外设接口协议,提供烧录、配置功能。


  • 使用场景:CP测试

      ●  数字通道数、测试频率、存储深度行业领先;

      ●  易于扩展,根据测试需求可插板扩容,最大能实现高达256-site并测;

      ●  具备高压、大电流驱动能力及高精度电压、电流量测能力;

      ●  支持Cable、Docking、Pogo Tower多种接口,满足多种芯片测试需求 n自带主控,能快速适配各种Prober机台。


    使用场景:CP测试
  • 使用场景:FT测试

    使用场景:FT测试

      ●  轻量化数字测试机,测试频率、存储深度行业领先,可为数字芯片FT测试提供高性价比解决方案;

      ●  具备高压、大电流驱动能力及高精度电压、电流量测能力;

      ●  支持Cable、Docking多种接口,满足多种芯片测试需求;

      ●  自带主控,能快速适配各种Handler机台。