CIS芯片测试系统解决方案

覆盖CIS芯片测试全流程,为各环节测试提供创新性方案

  • CIS芯片后道测试解决方案

    CIS芯片后道测试解决方案

      ●  辰卓系列化测试设备可覆盖CIS芯片测试全流程,为各环节测试提供创新性解决方案

      ●  国内领先的Docking和Cable测试方案

      ●  国内首创可同时支持"高速图像采集+精准电特性检测+数字逻辑测试"的一体化CIS测试解决方案

      ●  国内首创基于高性能ARM平台的多通道CIS SLT系统

  • CIS芯片后道测试解决方案

      ●  国内首创图像、电性、逻辑测试一体化的CIS测试机,极大简化测试机台结构复杂度、减少芯片测试中转流程,提升了测试稳定性

      ●  业界领先的MIPI D-PHY和C-PHY速率,完善的电测功能,覆盖CIS芯片后道测试全流程

      ●  可支持16/32 Sites并发测试,测试执行高效




    CIS芯片后道测试解决方案
  • CIS芯片后道测试解决方案

    CIS芯片后道测试解决方案

      ●  国内首款CZC800-32D Docking连接CIS测试机,可独立完成CIS测试工作

      ●  业界领先的MIPI D-PHY和C-PHY速率,兼具先进的电特性测试功能,可极大提升CIS CP测试稳定性、精准度

      ●  多通道测试板卡可选,满足不同客户及场景需求